দগাওপিনইন্ডাস্ট্রিয়াল মেটালার্জিক্যাল মাইক্রোস্কোপ ধাতু, খাদ, সিরামিক, অর্ধপরিবাহী উপাদান এবং নির্বাচিত ইলেকট্রনিক সামগ্রী সহ অস্বচ্ছ পদার্থের প্রতিফলিত-আলো পরীক্ষার জন্য ডিজাইন করা হয়েছে। এটি উপাদান বৈশিষ্ট্য, প্রক্রিয়া মূল্যায়ন, এবং ব্যর্থতা বিশ্লেষণের জন্য প্রস্তুত নমুনাগুলির মাইক্রোস্কোপিক পরিদর্শন সমর্থন করে। কনফিগারেশনের উপর নির্ভর করে, সিস্টেমটি ব্রাইটফিল্ড পর্যবেক্ষণের জন্য ব্যবহার করা যেতে পারে এবং ঐচ্ছিক ডার্কফিল্ড, পোলারাইজেশন, বা ডিফারেনশিয়াল ইন্টারফারেন্স কনট্রাস্ট (ডিআইসি) আনুষাঙ্গিক সমর্থন করতে পারে।
প্রধান নির্বাচনের কারণগুলি হল নমুনার আকার, পৃষ্ঠের প্রস্তুতি, প্রয়োজনীয় পরিবর্ধন, উদ্দেশ্যমূলক কাজের দূরত্ব, আলোকসজ্জা পদ্ধতি এবং ডিজিটাল চিত্র বিশ্লেষণ প্রয়োজন কিনা। Gaopin বিভিন্ন নমুনা ব্যবস্থার জন্য খাড়া এবং উল্টানো কনফিগারেশন অফার করে। খাড়া মডেলগুলি সাধারণত একটি মঞ্চে স্থাপন করা প্রস্তুত নমুনার জন্য উপযুক্ত, যখন স্টেজ এবং ক্লিয়ারেন্স স্পেসিফিকেশন অনুমতি দিলে উল্টানো ডিজাইনগুলি নির্দিষ্ট বড় বা ভারী ওয়ার্কপিসগুলিকে মিটমাট করতে পারে।
ইন্ডাস্ট্রিয়াল মেটালার্জিকাল মাইক্রোস্কোপি রুটিন চেহারা পরিদর্শন থেকে আলাদা। এটি সাধারণত প্রস্তুত উপাদান পৃষ্ঠ এবং ক্রস-সেকশন পরীক্ষা করতে ব্যবহৃত হয় যেখানে মাইক্রোস্ট্রাকচারাল বিবরণ খালি চোখে বা একটি কম-বিবর্ধন স্টেরিও মাইক্রোস্কোপ দিয়ে নির্ভরযোগ্যভাবে মূল্যায়ন করা যায় না।
অণুবীক্ষণ যন্ত্রের ছবি একাই কোনো বস্তুগত ব্যর্থতার কারণ প্রতিষ্ঠা করে না বা কোনো উপাদানের স্পেসিফিকেশনের সাথে সম্মতি নিশ্চিত করে না। নির্ভরযোগ্য ব্যাখ্যা নির্ভর করে নমুনা প্রস্তুতি, প্রযোজ্য মূল্যায়ন পদ্ধতি এবং যেখানে প্রয়োজন সেখানে পরিপূরক পরীক্ষা বা বিশ্লেষণী কৌশল।
গাওপিন ইন্ডাস্ট্রিয়াল মেটালার্জিক্যাল মাইক্রোস্কোপ মডেলগুলি খাড়া এবং উল্টানো ব্যবস্থায় পাওয়া যায়। উপযুক্ত নকশা প্রাথমিকভাবে নমুনার মাত্রা, ওজন, আকৃতি এবং মাউন্টিং অবস্থানের উপর নির্ভর করে।
| নির্বাচন ফ্যাক্টর | খাড়া কনফিগারেশন | উল্টানো কনফিগারেশন |
|---|---|---|
| উদ্দেশ্যমূলক অবস্থান | নমুনা উপরে | নমুনা পর্যায়ে নিচে |
| সাধারণ নমুনা বিন্যাস | প্রস্তুত নমুনা মঞ্চে স্থাপন | উদ্দেশ্য উপর অবস্থিত উপযুক্ত workpiece পৃষ্ঠতল |
| সাধারণ ব্যবহার | মাউন্ট করা বা প্রস্তুত নমুনার রুটিন মেটালোগ্রাফিক পরীক্ষা | নির্বাচিত বড় বা ভারী অংশের পরিদর্শন যা নিরাপদে সমর্থিত হতে পারে |
| প্রধান বিবেচনা | উদ্দেশ্যমূলক কাজের দূরত্ব এবং নমুনা উচ্চতা | পর্যায় লোড ক্ষমতা, workpiece ক্লিয়ারেন্স, এবং পরিদর্শন পৃষ্ঠ অ্যাক্সেস |
একটি উল্টানো অণুবীক্ষণ যন্ত্র নমুনা প্রস্তুতকে বাদ দেয় না যখন বিশ্লেষণের জন্য একটি পালিশ বা খোদাই করা পৃষ্ঠের প্রয়োজন হয়। একইভাবে, একটি ন্যায়পরায়ণ মডেল প্রতিটি নমুনার আকারকে মিটমাট করতে পারে না। যেকোনো একটি বিন্যাস নির্বাচন করার আগে, পর্যায় মাত্রা, লোড ক্ষমতা, উদ্দেশ্য ক্লিয়ারেন্স এবং উদ্দিষ্ট বিশ্লেষণের জন্য প্রয়োজনীয় প্রস্তুতি পদ্ধতি যাচাই করুন।
মাইক্রোস্কোপ অস্বচ্ছ নমুনা পরীক্ষা করার জন্য প্রতিফলিত আলোকসজ্জা ব্যবহার করে। চিত্রের বৈপরীত্য নমুনার পৃষ্ঠের অবস্থা, প্রতিফলনশীলতা, বস্তুনিষ্ঠ বৈশিষ্ট্য, আলোকসজ্জা জ্যামিতি এবং ফোকাসের উপর নির্ভর করে। নির্বাচিত আলো পদ্ধতিটি এমন বৈশিষ্ট্যগুলির সাথে মিলিত হওয়া উচিত যা পর্যবেক্ষণ করা প্রয়োজন।
এই কৌশলগুলি প্রতিটি নমুনার জন্য সর্বজনীনভাবে উপযুক্ত নয়। ঐচ্ছিক মডিউলগুলি অবশ্যই মাইক্রোস্কোপের বডি, উদ্দেশ্য এবং আলোকসজ্জার পথের সাথে সামঞ্জস্যপূর্ণ হতে হবে। একটি আপগ্রেড কনট্রাস্ট কনফিগারেশন নির্বাচন করার আগে ক্রেতাদের উপাদান, পৃষ্ঠ ফিনিস এবং লক্ষ্য ত্রুটি সনাক্ত করা উচিত।
উদ্দেশ্য নির্বাচন রেজোলিউশন, দৃশ্যের ক্ষেত্র, কাজের দূরত্ব এবং বিশদ স্তরকে প্রভাবিত করে যা আলাদা করা যায়। একটি উচ্চতর ম্যাগনিফিকেশন সেটিং স্বয়ংক্রিয়ভাবে আরও দরকারী তথ্য প্রদান করে না: দৃশ্যমান ক্ষেত্রটি ছোট হয়ে যায়, এবং অপটিক্যাল রেজোলিউশন সংখ্যাসূচক অ্যাপারচার, তরঙ্গদৈর্ঘ্য, অপটিক্যাল সংশোধন এবং নমুনার গুণমানের মতো কারণের উপর নির্ভরশীল থাকে।
মেটালোগ্রাফিক পরীক্ষার জন্য প্রায়ই একটি নিয়ন্ত্রিত প্রস্তুতির ক্রম প্রয়োজন, যার মধ্যে সেকশনিং, মাউন্টিং, গ্রাইন্ডিং, পলিশিং এবং এচিং অন্তর্ভুক্ত থাকতে পারে। উপযুক্ত পদ্ধতি উপাদান এবং গঠন মূল্যায়ন করা হচ্ছে উপর নির্ভর করে. স্ক্র্যাচ, পুল-আউট, দূষণ, অসম পলিশিং এবং অনুপযুক্ত এচিং এমন শিল্পকর্মের পরিচয় দিতে পারে যা বস্তুগত বৈশিষ্ট্যগুলির জন্য ভুল হতে পারে।
সংগ্রহের জন্য, সমর্থিত উদ্দেশ্য পরিসীমা, অপটিক্যাল সিস্টেম, কাজের দূরত্ব, নমুনার মাত্রা এবং প্রয়োজনীয় প্রস্তুতির পদ্ধতি নিশ্চিত করুন। যদি ওয়ার্কপিসটি লম্বা, অনিয়মিত বা একটি প্রস্তুত নমুনা পর্যায়ের জন্য খুব বড় হয়, তাহলে একটি উল্টানো কনফিগারেশন বা অন্য পরিদর্শন পদ্ধতি আরও উপযুক্ত কিনা তা মূল্যায়ন করুন।
বাইনোকুলার মডেলগুলি মূলত সরাসরি আইপিস পর্যবেক্ষণের জন্য তৈরি করা হয়। একটি সামঞ্জস্যপূর্ণ ট্রিনোকুলার কনফিগারেশন একটি উপযুক্ত সি-মাউন্ট অ্যাডাপ্টারের মাধ্যমে একটি শিল্প ক্যামেরা গ্রহণ করতে পারে। নির্বাচিত ক্যামেরা এবং সংশ্লিষ্ট সরঞ্জামের উপর নির্ভর করে, সিস্টেমটি লাইভ ডিসপ্লে, ইমেজ ক্যাপচার, ভিডিও রেকর্ডিং এবং সফ্টওয়্যার-সহায়ক বিশ্লেষণ সমর্থন করতে পারে।
HDMI এবং USB আউটপুট ক্যামেরা এবং এর ইলেকট্রনিক্সের উপর নির্ভর করে; ট্রাইনোকুলার পোর্ট নিজেই একটি ডিজিটাল সংকেত তৈরি করে না। ক্যামেরার সেন্সরের আকার, অ্যাডাপ্টারের ম্যাগনিফিকেশন, সফ্টওয়্যার সামঞ্জস্যতা, এবং মাইক্রোস্কোপের অপটিক্যাল ডিজাইন ফলস্বরূপ চিত্র এবং দৃশ্যের ক্ষেত্রকে প্রভাবিত করে।
পরিমাণগত মেটালোগ্রাফিক বিশ্লেষণের জন্য একটি উপযুক্ত ইমেজিং স্কেল এবং একটি উপযুক্ত মূল্যায়ন পদ্ধতি প্রয়োজন। সফ্টওয়্যার রৈখিক এবং এলাকা পরিমাপ, শস্য-আকার পরিসংখ্যান, বা অন্তর্ভুক্তি বিশ্লেষণের মতো ফাংশনগুলিকে সমর্থন করতে পারে তবে প্রতিটি ফাংশনের প্রাপ্যতা এবং বৈধতা সফ্টওয়্যার, ক্রমাঙ্কন, নমুনা প্রস্তুতি এবং প্রযোজ্য পদ্ধতির উপর নির্ভর করে।
একটি ক্যামেরা এবং সফ্টওয়্যার প্যাকেজ স্বয়ংক্রিয়ভাবে মাইক্রোস্কোপকে একটি ক্যালিব্রেটেড মেট্রোলজি যন্ত্রে পরিণত করে না। আনুষ্ঠানিক মাত্রিক পরিদর্শনের জন্য, প্রয়োজনীয় নির্ভুলতা, পরিমাপের অনিশ্চয়তা, ক্রমাঙ্কন ট্রেসেবিলিটি এবং প্রযোজ্য পরিদর্শন পদ্ধতি নিশ্চিত করুন।
| সরঞ্জামের ধরন | প্রাথমিক আবেদন | মূল নির্বাচন বিবেচনা |
|---|---|---|
| ইন্ডাস্ট্রিয়াল মেটালার্জিক্যাল মাইক্রোস্কোপ | প্রস্তুত অস্বচ্ছ নমুনার প্রতিফলিত-আলো পরীক্ষা | উদ্দেশ্য রেজোলিউশন, আলোকসজ্জা, নমুনা প্রস্তুতি, এবং বৈসাদৃশ্য প্রয়োজনীয়তা. |
| স্টেরিও মাইক্রোস্কোপ | অক্ষত ওয়ার্কপিসগুলির ত্রিমাত্রিক চাক্ষুষ পরিদর্শন | কাজের দূরত্ব, গভীরতার উপলব্ধি, এবং ম্যানুয়াল ক্রিয়াকলাপের জন্য অ্যাক্সেস। |
| HDMI ডিজিটাল মাইক্রোস্কোপ | স্ক্রিন-ভিত্তিক ভিজ্যুয়াল পরিদর্শন এবং ডিজিটাল ডকুমেন্টেশন | ক্যামেরা রেজোলিউশন, ডিসপ্লে আউটপুট এবং মেটালোগ্রাফিক কনট্রাস্ট পদ্ধতি উপলব্ধ কিনা। |
| মেজারিং মাইক্রোস্কোপ বা ভিশন মেজারমেন্ট সিস্টেম | সংজ্ঞায়িত সহনশীলতার বিরুদ্ধে মাত্রিক পরিদর্শন | পরিমাপ পরিসীমা, ক্রমাঙ্কন, অনিশ্চয়তা, এবং নথিভুক্ত নির্ভুলতা। |
| ইলেক্ট্রন মাইক্রোস্কোপ | প্রচলিত অপটিক্যাল মাইক্রোস্কোপির ব্যবহারিক রেজোলিউশনের বাইরে বৈশিষ্ট্যের পরীক্ষা | প্রয়োজনীয় রেজোলিউশন, নমুনা প্রস্তুতি, অপারেটিং পরিবেশ এবং বিশ্লেষণাত্মক প্রয়োজন। |
শিল্প ধাতব মাইক্রোস্কোপ প্রতিটি বিশ্লেষণাত্মক যন্ত্র প্রতিস্থাপন করার উদ্দেশ্যে নয়। প্রচলিত অপটিক্যাল মাইক্রোস্কোপি সমস্ত ন্যানোস্কেল কাঠামোর সমাধান করতে পারে না, এবং লক্ষ্য বৈশিষ্ট্যগুলি অপটিক্যাল রেজোলিউশন সীমার নীচে থাকলে ইলেক্ট্রন মাইক্রোস্কোপি বা অন্য বিশেষ প্রযুক্তির প্রয়োজন হতে পারে।
গাওপিনের ইন্ডাস্ট্রিয়াল মেটালার্জিক্যাল মাইক্রোস্কোপ পরিসর বিভিন্ন পর্যবেক্ষণ, আলোকসজ্জা, মঞ্চ এবং ইমেজিং প্রয়োজনীয়তাগুলিকে কভার করে। বর্তমান মডেল স্পেসিফিকেশনের বিপরীতে উপলব্ধ কনফিগারেশন নিশ্চিত করা উচিত।
সম্ভাব্য আনুষাঙ্গিকগুলির মধ্যে রয়েছে সামঞ্জস্যপূর্ণ ধাতববিদ্যার উদ্দেশ্য, ওয়াইড-ফিল্ড আইপিস, প্রতিফলিত-আলোক আলোকসজ্জা, ব্রাইটফিল্ড এবং ডার্কফিল্ড মডিউল, পোলারাইজেশন উপাদান, ডিআইসি মডিউল, ম্যানুয়াল বা মোটরযুক্ত XY স্টেজ, সি-মাউন্ট অ্যাডাপ্টার, শিল্প ক্যামেরা, ফিল্টার এবং ধাতব চিত্র বিশ্লেষণ সফ্টওয়্যার।
সম্পূর্ণ সিস্টেমের জন্য আনুষঙ্গিক সামঞ্জস্যতা নিশ্চিত করা উচিত। উদাহরণস্বরূপ, একটি উদ্দেশ্য, ক্যামেরা অ্যাডাপ্টার, বা কনট্রাস্ট মডিউল প্রতিটি অপটিক্যাল ডিজাইনের সাথে সঠিকভাবে কাজ নাও করতে পারে। অর্ডার করার আগে, মডেল নম্বর প্রদান করুন এবং নমুনা, লক্ষ্য বৈশিষ্ট্য, বিবর্ধনের প্রয়োজনীয়তা এবং উদ্দেশ্য বিশ্লেষণ পদ্ধতি বর্ণনা করুন।
গাওপিনের ইন্ডাস্ট্রিয়াল মেটালার্জিক্যাল মাইক্রোস্কোপ উৎপাদন প্রক্রিয়ায় অপটিক্যাল কম্পোনেন্ট অ্যাসেম্বলি, রিফ্লেক্টেড-লাইট পাথ অ্যাডজাস্টমেন্ট, অবজেক্টিভ এবং ইলুমিনেশন অ্যালাইনমেন্ট, স্টেজ অ্যালাইনমেন্ট এবং ফিনিশড প্রোডাক্ট পরিদর্শন অন্তর্ভুক্ত থাকতে পারে। মডেলের উপর নির্ভর করে, গুণমান পরীক্ষাগুলি চিত্রের স্বচ্ছতা, আলোকসজ্জার অভিন্নতা, ফোকাস করার আচরণ, স্টেজ মুভমেন্ট, অপটিক্যাল অ্যালাইনমেন্ট এবং সমর্থিত কনট্রাস্ট মডিউলগুলির অপারেশনকে কভার করতে পারে।
উল্টানো মডেলগুলির জন্য নির্ধারিত ওয়ার্কপিস লোডের উপর ভিত্তি করে স্টেজের ক্ষমতা এবং যান্ত্রিক স্থিতিশীলতার অতিরিক্ত যাচাইকরণের প্রয়োজন হতে পারে। ক্রেতাদের নির্বাচিত মডেলের জন্য প্রযোজ্য স্পেসিফিকেশন এবং পরিদর্শন রেকর্ডের জন্য অনুরোধ করা উচিত, বিশেষ করে যেখানে স্টেজ ভ্রমণ, লোড ক্ষমতা, অপটিক্যাল রেজোলিউশন, বা আলোকসজ্জা অভিন্নতা একটি সংজ্ঞায়িত ক্রয়ের প্রয়োজনীয়তা।
পারফোকাল কর্মক্ষমতা, ক্রমাগত অপারেশন, বা বিশেষ বিশ্লেষণ ফাংশনগুলির সাথে সামঞ্জস্যের মতো দাবিগুলি মডেল-নির্দিষ্ট ডকুমেন্টেশন দ্বারা সমর্থিত হওয়া উচিত। অপটিক্যাল চেক, যান্ত্রিক পরীক্ষা, বার্ধক্য রেকর্ড, এবং সফ্টওয়্যার বৈধতা সিস্টেম কর্মক্ষমতা বিভিন্ন দিক সম্বোধন করে এবং সমতুল্য প্রমাণ হিসাবে বিবেচনা করা উচিত নয়।
বাজার-সম্পর্কিত সম্মতির প্রয়োজনীয়তা পণ্য কনফিগারেশন এবং লক্ষ্য অঞ্চলের দ্বারা পরিবর্তিত হয়। প্রাসঙ্গিক সহায়ক প্রযুক্তিগত উপকরণ আপনার স্থানীয় সংগ্রহের প্রয়োজন মেলে পর্যালোচনা করা যেতে পারে। নথির প্রযোজ্যতা পাঠানো ইউনিট, আনুষাঙ্গিক এবং গন্তব্য বাজারের উপর নির্ভর করে। বিভিন্ন মডেল এবং সেটআপের জন্য সহায়ক প্রযুক্তিগত তথ্য আলাদা। অর্ডার দেওয়ার আগে উপলব্ধ উপকরণ নিশ্চিত করতে আমাদের সাথে পরামর্শ করুন।
নির্বাচিত গাওপিন ইন্ডাস্ট্রিয়াল মেটালার্জিক্যাল মাইক্রোস্কোপ মডেলগুলির আনব্র্যান্ডেড স্টক নমুনাগুলি প্রাথমিক মূল্যায়নের জন্য উপলব্ধ হতে পারে, স্টক এবং কনফিগারেশন সাপেক্ষে। বৃহত্তর অর্ডার দেওয়ার আগে নমুনা পরীক্ষা নমুনা ফিট, উদ্দেশ্য ক্লিয়ারেন্স, আলোকসজ্জা, ছবির গুণমান এবং ক্যামেরা সামঞ্জস্যতা যাচাই করতে সাহায্য করতে পারে।
নির্বাচিত কাঠামোগত পরিবর্তনের জন্য, আনুমানিক নমুনা বিকাশের সময়কাল হল 7-12 কার্যদিবস। নমুনা অনুমোদনের পর 15-25 কার্যদিবসে ব্যাপক উৎপাদন অনুমান করা হয়। প্রকৃত সময় অর্ডারের পরিমাণ, উপাদানের প্রাপ্যতা এবং অনুরোধকৃত পরিবর্তনের জটিলতার উপর নির্ভর করে। উদ্ধৃতি বা আদেশ নিশ্চিতকরণে সম্মত সময়সূচী, পরিবর্তনের সুযোগ এবং নমুনা অনুমোদন প্রক্রিয়া নিশ্চিত করুন।
একটি সঠিক উদ্ধৃতি সমর্থন করতে, প্রদান করুন:
একটি বাইনোকুলার মডেল প্রাথমিকভাবে আইপিস পর্যবেক্ষণের জন্য ডিজাইন করা হয়েছে এবং অগত্যা একটি ডিজিটাল আউটপুট অন্তর্ভুক্ত করে না। একটি সামঞ্জস্যপূর্ণ ট্রিনোকুলার মডেল উপযুক্ত অ্যাডাপ্টারের মাধ্যমে একটি শিল্প ক্যামেরা গ্রহণ করতে পারে। এইচডিএমআই বা ইউএসবি আউটপুট ক্যামেরার উপর নির্ভর করে এবং একই সাথে আইপিস এবং স্ক্রিন দেখা মাইক্রোস্কোপের আলো-বিভাজন ডিজাইনের উপর নির্ভর করে।
এই বিশ্লেষণগুলি একটি সামঞ্জস্যপূর্ণ ক্যামেরা, ক্যালিব্রেটেড ইমেজ স্কেল, উপযুক্ত সফ্টওয়্যার এবং সঠিক নমুনা প্রস্তুতি এবং মূল্যায়ন পদ্ধতির মাধ্যমে সম্ভব হতে পারে। আবরণ বেধ প্রায়ই একটি প্রস্তুত ক্রস-সেকশন বা অন্য বৈধ পদ্ধতি প্রয়োজন। শস্য-আকার এবং অন্তর্ভুক্তি বিশ্লেষণ প্রাসঙ্গিক উপাদান মান এবং মূল্যায়ন পদ্ধতির উপর নির্ভর করে। সিস্টেম নির্বাচন করার আগে প্রয়োজনীয় ফলাফল এবং পদ্ধতি নিশ্চিত করুন।
কিছু মডেল ঐচ্ছিক কন্ট্রাস্ট মডিউল সমর্থন করে, কিন্তু সামঞ্জস্যতা অপটিক্যাল বডি, উদ্দেশ্য, ইলুমিনেটর এবং অপটিক্যাল পাথের উপর নির্ভর করে। একটি আপগ্রেড অর্ডার করার আগে সঠিক মডেল এবং উদ্দিষ্ট নমুনা নিশ্চিত করুন। এই কৌশলগুলি নির্বাচিত বৈশিষ্ট্যগুলির দৃশ্যমানতা উন্নত করতে পারে তবে প্রতিটি ত্রুটি সনাক্তকরণের গ্যারান্টি দেয় না।
লেন্স পৃষ্ঠ পরিষ্কার করার আগে একটি পরিষ্কার এয়ার ব্লোয়ার দিয়ে আলগা ধুলো সরান। যদি আরও পরিষ্কারের প্রয়োজন হয়, প্রস্তুতকারকের নির্দেশ অনুসরণ করে অপটিক্যাল লেন্স টিস্যু এবং আবরণের জন্য অনুমোদিত একটি পরিষ্কার সমাধান ব্যবহার করুন। কাগজের তোয়ালে, সাধারণ কাপড়, অতিরিক্ত তরল এবং লেন্সে সরাসরি চাপ এড়িয়ে চলুন। অভ্যন্তরীণ অপটিক্যাল উপাদানগুলি ভেঙে ফেলবেন না; অভ্যন্তরীণ পরিচ্ছন্নতা এবং প্রান্তিককরণ যোগ্য পরিষেবা কর্মীদের দ্বারা পরিচালনা করা উচিত।
একটি উল্টানো ব্যবস্থা কিছু বড় বা ভারী ওয়ার্কপিস মিটমাট করতে পারে, যদি নমুনাটি নিরাপদে অবস্থান করা যায় এবং স্টেজ ক্ষমতা এবং উদ্দেশ্য ক্লিয়ারেন্স যথেষ্ট। যাইহোক, মেটালোগ্রাফিক মাইক্রোস্ট্রাকচার বিশ্লেষণের জন্য এখনও সেকশনিং, গ্রাইন্ডিং, পলিশিং বা এচিং প্রয়োজন হতে পারে। কনফিগারেশন নির্বাচন করার আগে উদ্দেশ্য পরিদর্শন পদ্ধতি এবং নমুনার প্রয়োজনীয়তা নিশ্চিত করুন।
নির্বাচিত কাঠামোগত পরিবর্তনের জন্য আনুমানিক নমুনা বিকাশের সময়কাল হল 7-12 কার্যদিবস, তারপরে নমুনা অনুমোদনের পরে ব্যাপক উত্পাদনের জন্য আনুমানিক 15-25 কার্যদিবস। এগুলি নিশ্চিত ডেলিভারি তারিখের পরিবর্তে পরিকল্পনা অনুমান। পরিবর্তনের সুযোগ, নমুনা অনুমোদন প্রক্রিয়া এবং চূড়ান্ত বিতরণের সময়সূচী লিখিতভাবে নিশ্চিত করুন।
অপটিক্যাল ডিজাইন, উদ্দেশ্য পরিসীমা, নমুনা মাত্রা, আলোকসজ্জা পদ্ধতি, স্টেজ ক্ষমতা, ক্যামেরা এবং সফ্টওয়্যার সামঞ্জস্য, উপলব্ধ আনুষাঙ্গিক, এবং প্রয়োজনীয় ডকুমেন্টেশন যাচাই করুন। পরিমাণগত বিশ্লেষণের জন্য, নমুনা প্রস্তুতি, মূল্যায়নের মান, ক্রমাঙ্কন প্রয়োজনীয়তা এবং রিপোর্ট করা ফলাফলগুলিকে সমর্থন করার জন্য প্রয়োজনীয় রেকর্ডগুলিও নিশ্চিত করুন।
