দগাওপিনআপরাইট মেটালার্জিক্যাল মাইক্রোস্কোপটি পালিশ করা ধাতব নমুনা, আবরণ, ইলেকট্রনিক উপাদান এবং নির্বাচিত সেমিকন্ডাক্টর সারফেস সহ অস্বচ্ছ পদার্থের প্রতিফলিত-আলো পরীক্ষার জন্য ডিজাইন করা হয়েছে। এর উদ্দেশ্যগুলি নমুনার উপরে অবস্থিত, একটি মঞ্চে মাউন্ট করা প্রস্তুত নমুনাগুলির জন্য খাড়া কনফিগারেশনকে উপযুক্ত করে তোলে। অপটিক্যাল কনফিগারেশনের উপর নির্ভর করে, মাইক্রোস্কোপ মাইক্রোস্ট্রাকচার, পৃষ্ঠের ত্রুটি, অন্তর্ভুক্তি এবং আবরণ বৈশিষ্ট্যগুলি পরীক্ষা করার জন্য উজ্জ্বল ক্ষেত্র পর্যবেক্ষণ এবং ঐচ্ছিক বৈসাদৃশ্য কৌশলগুলিকে সমর্থন করতে পারে।
সরঞ্জাম নির্বাচন নমুনার ধরন, প্রস্তুতির পদ্ধতি, প্রয়োজনীয় পরিবর্ধন, উদ্দেশ্যমূলক কাজের দূরত্ব এবং উদ্দেশ্য বিশ্লেষণ দিয়ে শুরু করা উচিত। কমাইক্রোস্কোপরুটিন মেটালোগ্রাফিক পরিদর্শনের জন্য ব্যবহৃত হতে পারে সেমিকন্ডাক্টর পৃষ্ঠ পরিদর্শন বা পরিমাণগত চিত্র বিশ্লেষণের জন্য একটি ভিন্ন উদ্দেশ্য সেট, আলোকসজ্জা সিস্টেম, স্টেজ এবং ইমেজিং কনফিগারেশনের প্রয়োজন। কেনার আগে প্রস্তাবিত মডেলের স্পেসিফিকেশন নিশ্চিত করুন।
খাড়া ধাতব মাইক্রোস্কোপগুলি একটি অস্বচ্ছ নমুনা থেকে ফিরে আসা আলো পরীক্ষা করার জন্য প্রতিফলিত আলোকসজ্জা ব্যবহার করে। অনেক স্বচ্ছ নমুনার জন্য পরিকল্পিত ট্রান্সমিটেড-লাইট মাইক্রোস্কোপ থেকে ভিন্ন, তারা এমন পৃষ্ঠের জন্য উপযুক্ত যেগুলি প্রেরিত আলোর মাধ্যমে দেখা যায় না। ছবির গুণমান নমুনা প্রস্তুতি, বস্তুনিষ্ঠ সংখ্যাসূচক অ্যাপারচার, আলোকসজ্জার অভিন্নতা, ফোকাস এবং উপাদানের অপটিক্যাল বৈশিষ্ট্যের উপর নির্ভর করে।
অপটিক্যাল পর্যবেক্ষণ একাই প্রতিটি উপাদানের পর্যায়কে চিহ্নিত করে না বা একটি উপাদান স্পেসিফিকেশনের সাথে একটি উপাদানের সম্মতি স্থাপন করে না। শস্য-আকার রেটিং, অন্তর্ভুক্তি শ্রেণীবিভাগ, আবরণ পরিমাপ, এবং অন্যান্য পরিমাণগত বিশ্লেষণের জন্য উপযুক্ত প্রস্তুতি, ক্রমাঙ্কিত চিত্র স্কেল, সংজ্ঞায়িত মূল্যায়ন পদ্ধতি এবং উপযুক্ত বিশ্লেষণ পদ্ধতি প্রয়োজন।
একটি খাড়া ধাতব মাইক্রোস্কোপ উদ্দেশ্যটিকে নমুনার উপরে রাখে এবং প্রতিফলিত-আলো অপটিক্যাল বিন্যাসের মাধ্যমে পৃষ্ঠের উপর আলোকসজ্জা নির্দেশ করে। ইনফিনিটি-সংশোধিত অপটিক্যাল সিস্টেমগুলি অনেক শিল্প মাইক্রোস্কোপ ডিজাইনে পাওয়া যায়, তবে নির্বাচিত মডেলের জন্য বস্তুনিষ্ঠ সামঞ্জস্যতা, টিউব-লেন্সের প্রয়োজনীয়তা এবং আনুষঙ্গিক বৈশিষ্ট্যগুলি নিশ্চিত করতে হবে।
আলোকসজ্জা ব্যবস্থা প্রভাবিত করে কিভাবে পৃষ্ঠ বৈশিষ্ট্য প্রদর্শিত হয়. ব্রাইটফিল্ড সাধারণত সাধারণ প্রতিফলিত-আলো পরীক্ষার জন্য ব্যবহৃত হয়। ডার্কফিল্ড আলোকসজ্জার জ্যামিতি পরিবর্তন করে নির্বাচিত পৃষ্ঠের অনিয়ম, স্ক্র্যাচ বা প্রান্ত বৈশিষ্ট্যগুলি প্রকাশ করতে সহায়তা করতে পারে। পোলারাইজেশন নির্দিষ্ট অ্যানিসোট্রপিক বা অপটিক্যালি প্রতিক্রিয়াশীল পদার্থের বৈসাদৃশ্য উন্নত করতে পারে। ডিফারেনশিয়াল ইন্টারফারেন্স কন্ট্রাস্ট (ডিআইসি), যেখানে সমর্থিত, সূক্ষ্ম পৃষ্ঠ-উচ্চতার বৈচিত্র এবং সীমানার উপর জোর দিতে পারে।
এই পদ্ধতিগুলি বিনিময়যোগ্য নয়, এবং ঐচ্ছিক মডিউলগুলি অগত্যা প্রতিটি মাইক্রোস্কোপ বডি বা উদ্দেশ্যের সাথে সামঞ্জস্যপূর্ণ নয়। সর্বোত্তম কনফিগারেশনটি নমুনার প্রতিফলন, পৃষ্ঠের সমাপ্তি, প্রস্তুতি এবং বৈশিষ্ট্যগুলির উপর নির্ভর করে যা আলাদা করা দরকার।
গাওপিন খাড়া ধাতব মাইক্রোস্কোপ মডেলগুলি বিভিন্ন পর্যবেক্ষণ, ইমেজিং, আলোকসজ্জা এবং স্টেজ বিন্যাসের সাথে নির্দিষ্ট করা যেতে পারে। প্রতিটি বিকল্পের প্রাপ্যতা বিবেচনাধীন মডেলের জন্য নিশ্চিত করা উচিত।
| কনফিগারেশন | প্রাথমিক উদ্দেশ্য | কি যাচাই করতে হবে |
|---|---|---|
| বাইনোকুলার খাড়া মেটালার্জিক্যাল মাইক্রোস্কোপ | আইপিসের মাধ্যমে সরাসরি পর্যবেক্ষণ | উদ্দেশ্য পরিসীমা, আইপিস স্পেসিফিকেশন, আলোকসজ্জা, এবং মঞ্চ ভ্রমণ। |
| ট্রিনোকুলার খাড়া ধাতব মাইক্রোস্কোপ | একটি অতিরিক্ত ক্যামেরা পোর্ট সহ আইপিস পর্যবেক্ষণ | ক্যামেরা অ্যাডাপ্টারের সামঞ্জস্য, আলো বিতরণ, এবং সমর্থিত ইমেজিং সেটআপ। |
| ব্রাইটফিল্ড এবং ডার্কফিল্ড কনফিগারেশন | বিভিন্ন বৈসাদৃশ্য পদ্ধতি ব্যবহার করে প্রতিফলিত-আলো পরীক্ষা | উদ্দেশ্য সামঞ্জস্য, আলোকসজ্জা নিয়ন্ত্রণ, এবং সমর্থিত অপটিক্যাল মডিউল। |
| পোলারাইজিং মেটালার্জিক্যাল মাইক্রোস্কোপ | নমুনা পর্যবেক্ষণ যার জন্য পোলারাইজড আলোকসজ্জা বৈসাদৃশ্য উন্নত করে | পোলারাইজার এবং বিশ্লেষক বিন্যাস, ঘূর্ণন ক্ষমতা, এবং নমুনা উপযুক্ততা. |
| ডিআইসি-সজ্জিত কনফিগারেশন | নির্বাচিত পৃষ্ঠ বৈশিষ্ট্য জন্য বৈসাদৃশ্য বৃদ্ধি | উদ্দেশ্য এবং অপটিক্যাল সিস্টেমের সাথে ডিআইসি উপাদানগুলির সামঞ্জস্য। |
| মোটরাইজড-স্টেজ কনফিগারেশন | পুনরাবৃত্তিযোগ্য পরিদর্শন বা ইমেজিংয়ের জন্য নিয়ন্ত্রিত নমুনা অবস্থান | পর্যায় ভ্রমণ, অবস্থান নির্ধারণ রেজোলিউশন, নিয়ামক, সফ্টওয়্যার, এবং লোড ক্ষমতা। |
| ওয়াইড-ফিল্ড রিসার্চ কনফিগারেশন | অপটিক্স দ্বারা সমর্থিত দৃশ্যের একটি বৃহত্তর ক্ষেত্র জুড়ে পর্যবেক্ষণ | ক্ষেত্র নম্বর, উদ্দেশ্য কভারেজ, চিত্র সমতলতা, এবং ক্যামেরা সেন্সর সামঞ্জস্য। |
উদ্দেশ্য নির্বাচন মাইক্রোস্কোপের রেজোলিউশন, কাজের দূরত্ব, দৃশ্যের ক্ষেত্র এবং ব্যবহারযোগ্য বিবর্ধন নির্ধারণ করে। উচ্চতর বিবর্ধন স্বয়ংক্রিয়ভাবে ভাল নয়: এটি দেখার ক্ষেত্র হ্রাস করে এবং একটি বৈশিষ্ট্য সনাক্ত করা বা একটি বৃহত্তর এলাকা দক্ষতার সাথে পরীক্ষা করা আরও কঠিন করে তুলতে পারে। একটি উদ্দেশ্য নির্বাচন করার সময় সংখ্যাসূচক অ্যাপারচার, অপটিক্যাল সংশোধন, আলোকসজ্জা এবং নমুনা প্রস্তুতিও গুরুত্বপূর্ণ।
মেটালোগ্রাফিক নমুনাগুলির জন্য সাধারণত সেকশনিং, যেখানে উপযুক্ত সেখানে মাউন্ট করা, গ্রাইন্ডিং, পলিশিং এবং কখনও কখনও পরীক্ষার আগে এচিং প্রয়োজন হয়। প্রস্তুতি পদ্ধতি উপাদান এবং গঠন তদন্ত করা হচ্ছে উপর নির্ভর করে. স্ক্র্যাচ, পুল-আউট, দূষণ, অসম পলিশিং এবং অনুপযুক্ত এচিং এমন শিল্পকর্মের পরিচয় দিতে পারে যা বস্তুগত ত্রুটির জন্য ভুল হতে পারে।
একটি মঞ্চে স্থাপিত প্রস্তুত নমুনার জন্য খাড়া ব্যবস্থা সাধারণত ব্যবহারিক। লম্বা, ভারী বা অনিয়মিত ওয়ার্কপিস উপলব্ধ উদ্দেশ্য কাজের দূরত্ব বা স্টেজ ক্লিয়ারেন্স অতিক্রম করতে পারে। এই ধরনের নমুনার জন্য, একটি উল্টানো ধাতুবিদ্যা মাইক্রোস্কোপ বা অন্য একটি পরিদর্শন ব্যবস্থা খাড়া নকশা করার আগে মূল্যায়ন করুন।
একটি ট্রিনোকুলার গাওপিন আপরাইট মেটালার্জিক্যাল মাইক্রোস্কোপ ডিজিটাল ইমেজ অধিগ্রহণের জন্য একটি সামঞ্জস্যপূর্ণ সি-মাউন্ট ক্যামেরার সাথে কনফিগার করা যেতে পারে। ক্যামেরা এবং সিস্টেম সেটআপের উপর নির্ভর করে, ইমেজিং ওয়ার্কফ্লো লাইভ দেখা, স্টিল-ইমেজ ক্যাপচার, ভিডিও রেকর্ডিং এবং সফ্টওয়্যার-সহায়ক বিশ্লেষণ সমর্থন করতে পারে। HDMI এবং USB হল মাইক্রোস্কোপের অপটিক্যাল বডির গ্যারান্টিযুক্ত বৈশিষ্ট্যগুলির পরিবর্তে ক্যামেরা-নির্ভর আউটপুট বিকল্প।
পরিমাণগত চিত্র বিশ্লেষণের জন্য ক্যামেরা সংযোগের চেয়ে আরও বেশি কিছু প্রয়োজন। ইমেজিং স্কেলটি নির্বাচিত উদ্দেশ্য এবং ক্যামেরা কনফিগারেশনের জন্য ক্রমাঙ্কিত করা আবশ্যক, এবং বিশ্লেষণ পদ্ধতিটি অবশ্যই প্রাসঙ্গিক উপাদান বা পরীক্ষা পদ্ধতির সাথে মানানসই হবে। শস্য-আকারের পরিসংখ্যান এবং অন্তর্ভুক্তি বিশ্লেষণও নমুনা প্রস্তুতি, চিত্রের গুণমান, থ্রেশহোল্ডিং বা শ্রেণীবিভাগের সেটিংস এবং প্রযোজ্য মূল্যায়ন মানগুলির উপর নির্ভর করে।
আনুষ্ঠানিক মাত্রিক পরিদর্শন বা মেট্রোলজিক্যাল কাজের জন্য, পরিমাপের নির্ভুলতা, অনিশ্চয়তা, ক্রমাঙ্কন ট্রেসেবিলিটি এবং প্রযোজ্য পদ্ধতি যাচাই করুন। একটি ক্যামেরা এবং সফ্টওয়্যার প্যাকেজ নিজেরাই, একটি মাইক্রোস্কোপকে একটি প্রত্যয়িত পরিমাপের যন্ত্রে পরিণত করে না।
| নির্বাচন ফ্যাক্টর | খাড়া ধাতব মাইক্রোস্কোপ | ইনভার্টেড মেটালার্জিক্যাল মাইক্রোস্কোপ |
|---|---|---|
| উদ্দেশ্যমূলক অবস্থান | নমুনা উপরে | নমুনা পর্যায়ে নিচে |
| সাধারণ নমুনা সেটআপ | প্রস্তুত নমুনা মঞ্চে স্থাপন | মঞ্চের নীচে উদ্দেশ্যের উপরে অবস্থিত উপযুক্ত সমতল পৃষ্ঠগুলি |
| সাধারণ আবেদন | মাউন্ট করা বা প্রস্তুত নমুনাগুলির রুটিন মেটালোগ্রাফিক পরীক্ষা | নির্বাচিত বড় বা ভারী ওয়ার্কপিসগুলির পরিদর্শন যা মঞ্চে নিরাপদে স্থাপন করা যেতে পারে |
| প্রধান বিবেচনা | উদ্দেশ্য ক্লিয়ারেন্স এবং নমুনা উচ্চতা | ওয়ার্কপিস সমর্থন, পৃষ্ঠ অভিযোজন, এবং এলাকায় অ্যাক্সেস পরীক্ষা করা হচ্ছে |
কোনো ব্যবস্থাই সর্বজনীনভাবে উন্নত নয়। পছন্দটি ওয়ার্কপিসের মাত্রা, পৃষ্ঠের অবস্থান, প্রস্তুতির প্রয়োজনীয়তা, উদ্দেশ্যমূলক কাজের দূরত্ব এবং নমুনাটি কীভাবে সমর্থন করা যেতে পারে তার উপর নির্ভর করে। অপটিক্যাল পারফরম্যান্সের তুলনা করা উচিত প্রকৃত উদ্দেশ্য এবং আলোকসজ্জা কনফিগারেশনের পরিবর্তে খাড়া বা উল্টানো পদবী ব্যবহার করে।
বিভিন্ন অণুবীক্ষণ যন্ত্র বিভিন্ন পরিদর্শন কাজ সম্বোধন করে। প্রয়োজনীয় ফলাফল দ্বারা সরঞ্জাম নির্বাচন করা প্রয়োজন নেই এমন ফাংশনগুলির জন্য অর্থ প্রদান এড়াতে সাহায্য করে বা অপটিক্যাল সিস্টেম তার উদ্দেশ্য পরিসীমার বাইরে সঞ্চালনের আশা করে।
| সরঞ্জামের ধরন | সাধারণ টাস্ক | গুরুত্বপূর্ণ সীমাবদ্ধতা |
|---|---|---|
| খাড়া ধাতব মাইক্রোস্কোপ | প্রস্তুত অস্বচ্ছ নমুনা এবং উপাদান মাইক্রোস্ট্রাকচারের প্রতিফলিত-আলো পরীক্ষা | নমুনা প্রস্তুতি এবং অপটিক্যাল রেজোলিউশন চিহ্নিত করা যেতে পারে এমন বৈশিষ্ট্যগুলিকে সীমাবদ্ধ করে। |
| স্টেরিও মাইক্রোস্কোপ | অক্ষত অংশ এবং ম্যানুয়াল সমাবেশের ত্রিমাত্রিক চাক্ষুষ পরিদর্শন | সাধারণত বিস্তারিত মেটালোগ্রাফিক মাইক্রোস্ট্রাকচার বিশ্লেষণের উদ্দেশ্যে নয়। |
| HDMI ডিজিটাল মাইক্রোস্কোপ | স্ক্রীন-ভিত্তিক পরিদর্শন, ছবি শেয়ারিং এবং ডিজিটাল ডকুমেন্টেশন | ক্ষমতা ইমেজিং সিস্টেমের উপর নির্ভর করে; একটি স্ট্যান্ডার্ড একক-ক্যামেরা ভিউ নেটিভ স্টেরিও আইপিস পর্যবেক্ষণ প্রদান করে না। |
| মেজারিং মাইক্রোস্কোপ বা ভিশন মেজারমেন্ট সিস্টেম | ক্যালিব্রেটেড মাত্রিক পরিদর্শন এবং সহনশীলতা মূল্যায়ন | প্রয়োজনীয় পরিসীমা, নির্ভুলতা এবং পরিমাপের অনিশ্চয়তার জন্য অবশ্যই নির্দিষ্ট এবং যাচাই করা আবশ্যক। |
| ইলেক্ট্রন মাইক্রোস্কোপ | প্রচলিত অপটিক্যাল মাইক্রোস্কোপির ব্যবহারিক রেজোলিউশনের বাইরে ইমেজিং বৈশিষ্ট্য | বিভিন্ন অপারেটিং শর্ত, নমুনা প্রস্তুতি, এবং বিনিয়োগ প্রয়োজন. |
প্রচলিত অপটিক্যাল মেটালার্জিকাল মাইক্রোস্কোপ প্রতিটি ন্যানোস্কেল বৈশিষ্ট্য সমাধান করতে পারে না। যদি টার্গেট স্ট্রাকচারগুলি নির্বাচিত অপটিক্যাল সিস্টেমের রেজোলিউশন সীমার নিচে থাকে, তাহলে ইলেক্ট্রন মাইক্রোস্কোপি বা অন্য বিশেষ বিশ্লেষণাত্মক কৌশল প্রয়োজন হতে পারে।
সম্পূর্ণ পরিদর্শন ব্যবস্থায় উদ্দেশ্য, আইপিস, প্রতিফলিত-আলোক আলোকসজ্জা, অপটিক্যাল কনট্রাস্ট মডিউল, একটি যান্ত্রিক বা মোটর চালিত পর্যায়, একটি ক্যামেরা এবং চিত্র বিশ্লেষণ সফ্টওয়্যার অন্তর্ভুক্ত থাকতে পারে। Gaopin নির্বাচিত মডেল এবং অ্যাপ্লিকেশন অনুযায়ী উপলব্ধ আনুষঙ্গিক সমন্বয় আলোচনা করতে পারেন.
একটি সম্পূর্ণ ওয়ার্কস্টেশন অর্ডার করার আগে, যান্ত্রিক মাউন্টিং, উদ্দেশ্য এবং মডিউল সামঞ্জস্য, ক্যামেরা সেন্সর কভারেজ, সফ্টওয়্যার সমর্থন, পর্যায় ভ্রমণ এবং প্রয়োজনীয় বৈদ্যুতিক সংযোগগুলি নিশ্চিত করুন৷ যদি সিস্টেমটি প্রমিত উপাদান পরীক্ষার জন্য ব্যবহার করা হয়, কনফিগারেশন চূড়ান্ত করার আগে প্রযোজ্য পরীক্ষার পদ্ধতি এবং প্রয়োজনীয় ডকুমেন্টেশন সনাক্ত করুন।
গাওপিনের খাড়া ধাতব অণুবীক্ষণ যন্ত্রের উৎপাদন প্রক্রিয়ার মধ্যে থাকতে পারে অপটিক্যাল উপাদান সমাবেশ, প্রতিফলিত-আলো পথ সারিবদ্ধকরণ, স্টেজ এবং হাউজিং সমাবেশ, ক্যামেরা-পোর্ট যাচাইকরণ যেখানে প্রযোজ্য, এবং চূড়ান্ত পণ্য পরিদর্শন। মডেলের উপর নির্ভর করে, প্রাসঙ্গিক চেকগুলি চিত্রের স্বচ্ছতা, ক্ষেত্রের আলোকসজ্জা, ফোকাস আচরণ, উদ্দেশ্য সামঞ্জস্যতা, স্টেজ মুভমেন্ট, এবং নির্বাচিত ব্রাইটফিল্ড বা ডার্কফিল্ড কনফিগারেশনের অপারেশন কভার করতে পারে।
সংজ্ঞায়িত কর্মক্ষমতা প্রয়োজনীয়তা সহ প্রকল্পগুলির জন্য, ক্রেতাদের মডেল-নির্দিষ্ট স্পেসিফিকেশন এবং উপলব্ধ পরিদর্শন রেকর্ডের অনুরোধ করা উচিত। যদি পারফোকাল কর্মক্ষমতা, আলোকসজ্জা অভিন্নতা, বা অপটিক্যাল রেজোলিউশন অ্যাপ্লিকেশনের জন্য গুরুত্বপূর্ণ হয়, তাহলে "উচ্চ রেজোলিউশন" বা "স্থিতিশীল ইমেজিং" এর মতো সাধারণ বর্ণনার উপর নির্ভর না করে মূল্যায়ন পদ্ধতি এবং গ্রহণযোগ্যতার মানদণ্ড নিশ্চিত করুন।
পরীক্ষার প্রতিবেদনগুলি মূল্যায়ন করা সরঞ্জাম বা কনফিগারেশন এবং পরীক্ষিত পরামিতিগুলি সনাক্ত করা উচিত। অপটিক্যাল পরিদর্শন রেকর্ড, বার্ধক্য পরীক্ষা, মাত্রিক পরীক্ষা, এবং সম্মতি নথি বিভিন্ন উদ্দেশ্যে পরিবেশন করে; একটি অন্যের বিকল্প হিসাবে ব্যবহার করা উচিত নয়।
প্রযোজ্য সম্মতির প্রয়োজনীয়তা গন্তব্য বাজার এবং মাইক্রোস্কোপের সাথে সরবরাহ করা উপাদানগুলির উপর নির্ভর করে। যদি CE বা FCC ডকুমেন্টেশনের প্রয়োজন হয়, প্রাসঙ্গিক ঘোষণা বা প্রতিবেদনের জন্য অনুরোধ করুন এবং যাচাই করুন যে তারা কোন মডেল, বৈদ্যুতিক সমাবেশ, বা আনুষঙ্গিকগুলি কভার করে। একটি মাইক্রোস্কোপ বডি, ইলুমিনেটর, পাওয়ার সাপ্লাই, ক্যামেরা এবং সম্পূর্ণ ওয়ার্কস্টেশনের মধ্যে সঠিক স্কোপ আলাদা হতে পারে।
ISO 9001 একটি মান ব্যবস্থাপনা সিস্টেমের সাথে সম্পর্কিত; এটি স্বাধীনভাবে একটি নির্দিষ্ট মাইক্রোস্কোপের অপটিক্যাল কর্মক্ষমতা প্রতিষ্ঠা করে না। ক্রেতাদের শংসাপত্রের সুযোগ এবং বৈধতা পরীক্ষা করা উচিত এবং প্রকৃত অর্ডারের জন্য পণ্যের স্পেসিফিকেশন এবং প্রাসঙ্গিক পরিদর্শন রেকর্ডের অনুরোধ করা উচিত। অনুমান করবেন না যে প্রতিটি মডেল বা ঐচ্ছিক মডিউল একই সম্মতির স্থিতি বহন করে।
নির্বাচিত গাওপিন আপরাইট মেটালার্জিক্যাল মাইক্রোস্কোপ মডেলের আনব্র্যান্ডেড স্টক নমুনা প্রাথমিক মূল্যায়নের জন্য উপলব্ধ হতে পারে, স্টক এবং কনফিগারেশন সাপেক্ষে। একটি নমুনা ট্রায়াল একটি বড় অর্ডার দেওয়ার আগে নমুনার সামঞ্জস্যতা, উদ্দেশ্যমূলক কাজের দূরত্ব, আলোকসজ্জার কার্যকারিতা, চিত্রের গুণমান এবং ক্যামেরা ইন্টিগ্রেশন নিশ্চিত করতে সহায়তা করতে পারে।
নির্বাচিত কাঠামোগত বা কার্যকরী পরিবর্তনের জন্য, আনুমানিক নমুনা বিকাশের সময়কাল হল 7-12 কার্যদিবস। নমুনা অনুমোদনের পর 15-25 কার্যদিবসে ব্যাপক উৎপাদন অনুমান করা হয়। প্রকৃত সময় অর্ডারের পরিমাণ, উপাদানের প্রাপ্যতা এবং অনুরোধকৃত পরিবর্তনের জটিলতার উপর নির্ভর করে। উদ্ধৃতি বা অর্ডার নিশ্চিতকরণে চূড়ান্ত সময়সূচী এবং কাস্টমাইজেশনের সুযোগ নিশ্চিত করুন।
আরো সঠিক উদ্ধৃতির জন্য, প্রদান করুন:
একটি বাইনোকুলার মডেল প্রাথমিকভাবে আইপিস পর্যবেক্ষণের জন্য তৈরি এবং অগত্যা একটি ডিজিটাল আউটপুট অন্তর্ভুক্ত করে না। একটি সামঞ্জস্যপূর্ণ ট্রিনোকুলার মডেল উপযুক্ত অ্যাডাপ্টারের মাধ্যমে একটি শিল্প ক্যামেরা গ্রহণ করতে পারে। সিস্টেমটি HDMI, USB, বা একই সাথে আইপিস এবং স্ক্রিন দেখার সমর্থন করে কিনা তা ক্যামেরা এবং মাইক্রোস্কোপের অপটিক্যাল ডিজাইনের উপর নির্ভর করে।
এই কাজগুলি একটি উপযুক্ত ক্যামেরা, ক্যালিব্রেটেড ইমেজ স্কেল, সামঞ্জস্যপূর্ণ বিশ্লেষণ সফ্টওয়্যার এবং একটি উপযুক্ত নমুনা প্রস্তুতি এবং মূল্যায়ন পদ্ধতি দ্বারা সমর্থিত হতে পারে। আবরণ বেধ পরিমাপ প্রায়ই একটি প্রস্তুত ক্রস-সেকশন বা অন্য বৈধ পরিমাপ কৌশল পরীক্ষা প্রয়োজন. শস্য-আকার এবং অন্তর্ভুক্তি বিশ্লেষণ প্রাসঙ্গিক উপাদান মান এবং মূল্যায়ন পদ্ধতির উপর নির্ভর করে। সিস্টেম নির্বাচন করার আগে উদ্দেশ্য বিশ্লেষণ পদ্ধতি নিশ্চিত করুন.
কিছু কনফিগারেশন ঐচ্ছিক কনট্রাস্ট মডিউল সমর্থন করে, কিন্তু সামঞ্জস্যতা নির্ভর করে মাইক্রোস্কোপের বডি, উদ্দেশ্য, ইলুমিনেটর এবং অপটিক্যাল পাথের উপর। একটি আপগ্রেড অর্ডার করার আগে মডেল এবং উদ্দিষ্ট নমুনা নিশ্চিত করুন. এই পদ্ধতিগুলি নির্বাচিত বৈশিষ্ট্যগুলির দৃশ্যমানতা উন্নত করতে পারে, তবে তারা গ্যারান্টি দেয় না যে প্রতিটি ত্রুটি দৃশ্যমান হবে৷
লেন্স পৃষ্ঠ পরিষ্কার করার আগে একটি পরিষ্কার এয়ার ব্লোয়ার দিয়ে আলগা কণাগুলি সরান। প্রয়োজনে, প্রস্তুতকারকের নির্দেশ অনুসরণ করে অপটিক্যাল লেন্স টিস্যু এবং আবরণের জন্য অনুমোদিত একটি পরিষ্কার সমাধান ব্যবহার করুন। কাগজের তোয়ালে, সাধারণ কাপড়, অতিরিক্ত তরল এবং লেন্সে সরাসরি চাপ এড়িয়ে চলুন। অভ্যন্তরীণ অপটিক্যাল সমাবেশগুলি ভেঙে ফেলবেন না; অভ্যন্তরীণ পরিচ্ছন্নতা এবং প্রান্তিককরণ যোগ্য পরিষেবা কর্মীদের দ্বারা পরিচালনা করা উচিত।
যখন ওয়ার্কপিস স্টেজে ফিট করে এবং উদ্দেশ্যটি পর্যাপ্ত কাজের দূরত্ব প্রদান করে তখন এটি অ্যাক্সেসযোগ্য পৃষ্ঠগুলি পরিদর্শন করতে পারে। যাইহোক, বিস্তারিত মাইক্রোস্ট্রাকচার বিশ্লেষণের জন্য সাধারণত উপযুক্ত নমুনা প্রস্তুতির প্রয়োজন হয়। বড়, লম্বা, বা ভারী অংশগুলি উপলব্ধ পর্যায়ে এবং উদ্দেশ্যমূলক ক্লিয়ারেন্সের জন্য অনুপযুক্ত হতে পারে; একটি উল্টানো মাইক্রোস্কোপ বা অন্য পরিদর্শন পদ্ধতি বিবেচনা করুন যেখানে উপযুক্ত।
নির্বাচিত পরিবর্তনগুলির জন্য আনুমানিক নমুনা বিকাশের সময়কাল হল 7-12 কার্যদিবস, তারপরে নমুনা অনুমোদনের পরে ব্যাপক উত্পাদনের জন্য আনুমানিক 15-25 কার্যদিবস। এগুলি নিশ্চিত ডেলিভারি তারিখের পরিবর্তে পরিকল্পনা অনুমান। লিখিতভাবে সম্মত সময়সূচী, নমুনা অনুমোদন পদ্ধতি এবং পরিবর্তনের সুযোগ নিশ্চিত করুন।
অপটিক্যাল সিস্টেম, উদ্দেশ্য পরিসীমা, কাজের দূরত্ব, আলোকসজ্জা পদ্ধতি, নমুনা মাত্রা, স্টেজ মুভমেন্ট, ক্যামেরা সামঞ্জস্য, বিশ্লেষণ সফ্টওয়্যার এবং উপলব্ধ ডকুমেন্টেশন পরীক্ষা করুন। পরিমাণগত উপাদান বিশ্লেষণের জন্য, নমুনা প্রস্তুতি, মূল্যায়নের মান, ক্রমাঙ্কন প্রয়োজনীয়তা এবং রিপোর্ট করা ফলাফলকে সমর্থন করার জন্য প্রয়োজনীয় প্রমাণগুলিও নিশ্চিত করুন।
